Augusto Tazzoli: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (26)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

ESD sensitivity of a GaAs MMIC microwave power amplifier

Augusto Tazzoli, Isabella Rossetto, Enrico Zanoni, Dai Yufeng, Tiziana Tomasi, Gaudenzio Meneghesso

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.21 MB

english, 2011

2

Thermal storage effects on AlGaN/GaN HEMT

Danesin, Francesca, Tazzoli, Augusto, Zanon, Franco, Meneghesso, Gaudenzio, Zanoni, Enrico, Cetronio, Antonio, Lanzieri, Claudio, Lavanga, Simone, Peroni, Marco, Romanini, Paolo

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 444 KB

english, 2008

3

A comprehensive study of MEMS behavior under EOS/ESD events: Breakdown characterization, dielectric charging, and realistic cures

Augusto Tazzoli, Marco Barbato, Vincenzo Ritrovato, Gaudenzio Meneghesso

Журнал:

Journal of Electrostatics

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.08 MB

english, 2011

4

Acceleration of Microwelding on Ohmic RF-MEMS Switches

Tazzoli, Augusto, Meneghesso, Gaudenzio

Журнал:

Journal of Microelectromechanical Systems

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 316 KB

english, 2011

5

Soft and Hard Failures of InGaN-Based LEDs Submitted to Electrostatic Discharge Testing

Meneghini, Matteo, Tazzoli, Augusto, Butendeich, Rainer, Hahn, Berthold, Meneghesso, Gaudenzio, Zanoni, Enrico

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 330 KB

english, 2010

6

[IEEE 2013 IEEE Custom Integrated Circuits Conference - CICC 2013 - San Jose, CA, USA (2013.09.22-2013.09.25)] Proceedings of the IEEE 2013 Custom Integrated Circuits Conference - A −173 dBc/Hz @ 1 MHz offset Colpitts oscillator using AlN contour-mode MEMS resonator

Koo, Jabeom, Tazzoli, Augusto, Segovai-Fernandez, Jeronimo, Piazza, Gianluca, Otis, Brian

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 598 KB

english, 2013

7

Electrostatic Discharge Effects in Irradiated Fully Depleted SOI MOSFETs With Ultra-Thin Gate Oxide

Gerardin, Simone, Griffoni, Alessio, Tazzoli, Augusto, Cester, Andrea, Meneghesso, Gaudenzio, Paccagnella, Alessandro

Журнал:

IEEE Transactions on Nuclear Science

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 356 KB

english, 2007

8

Reliability issues of Gallium Nitride High Electron Mobility Transistors

Meneghesso, Gaudenzio, Meneghini, Matteo, Tazzoli, Augusto, Ronchi, Nicolo', Stocco, Antonio, Chini, Alessandro, Zanoni, Enrico

Журнал:

International Journal of Microwave and Wireless Technologies

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 774 KB

english, 2010

9

[IEEE 2011 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS) - Orlando, FL, USA (2011.10.18-2011.10.21)] 2011 IEEE International Ultrasonics Symposium - Nonlinear lumped electrical model for contour mode AlN resonators

Segovia-Fernandez, Jeronimo, Tazzoli, Augusto, Rinaldi, Matteo, Piazza, Gianluca

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.42 MB

english, 2011

10

[IEEE 2012 IEEE 25th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS) - Paris, France (2012.01.29-2012.02.2)] 2012 IEEE 25th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS) - 1 Volt digital logic circuits realized by stress-resilient ALN parallel dual-beam MEMS relays

Sinha, Nipun, Guo, Zhijun, Tazzoli, Augusto, DeHon, Andre, Piazza, Gianluca

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.50 MB

english, 2012

11

[IEEE 2013 Joint European Frequency and Time Forum & International Frequency Control Symposium (EFTF/IFC) - Prague, Czech Republic (2013.07.21-2013.07.25)] 2013 Joint European Frequency and Time Forum & International Frequency Control Symposium (EFTF/IFC) - Dynamics of microscale thin film AlN piezoelectric resonators enables low phase noise UHF frequency sources

Piazza, Gianluca, Tazzoli, Augusto, Miller, Nicholas, Segovia, Jeronimo, Cassella, Cristian, Koo, Jabeom, Otis, Brian, McNaul, Kamala, Gibson, Brian, Turner, Kimberly, Palmer, Todd

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 995 KB

english, 2013

12

[IEEE 2009 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference (ESSDERC) - Athens, Greece (2009.09.14-2009.09.18)] 2009 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference - Organic TFT with SiO2-parylene gate dielectric stack and optimized pentacene growth temperature

Wrachien, Nicola, Cester, Andrea, Pinato, Alessandro, Meneghini, Matteo, Tazzoli, Augusto, Meneghesso, Gaudenzio, Kovac, Jaroslav, Jakabovic, Jan, Donoval, Daniel

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.08 MB

english, 2009

13

[IEEE 2013 International Joint Conference on Neural Networks (IJCNN 2013 - Dallas) - Dallas, TX, USA (2013.08.4-2013.08.9)] The 2013 International Joint Conference on Neural Networks (IJCNN) - Neurocomputing and associative memories based on ovenized aluminum nitride resonators

Calayir, Vehbi, Jackson, Tom, Tazzoli, Augusto, Piazza, Gianluca, Pileggi, Larry

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.64 MB

english, 2013

14

[IEEE 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Montreal, QC, Canada (2009.04.26-2009.04.30)] 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium - Threshold voltage instability in organic TFT with SiO2 and SiO2/parylene-stack dielectrics

Wrachien, Nicola, Cester, Andrea, Pinato, Alessandro, Meneghini, Matteo, Tazzoli, Augusto, Meneghesso, Gaudenzio, Kovac, Jaroslav, Jakabovic, Jan, Donoval, Daniel

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 357 KB

english, 2009

15

[IEEE 2007 29th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Anaheim, CA, USA (2007.09.16-2007.09.21)] 2007 29th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - CDM circuit simulation of a HV operational amplifier realized in 0.35um smart power technology

Dissegna, Mariano, Cerati, Lorenzo, Cecchetto, Luca, Gevinti, Eleonora, Andreini, Antonio, Tazzoli, Augusto, Meneghesso, Gaudenzio

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.20 MB

english, 2007

16

[IEEE 2007 IEEE International Electron Devices Meeting - Washington, DC, USA (2007.12.10-2007.12.12)] 2007 IEEE International Electron Devices Meeting - A review of failure modes and mechanisms of GaN-based HEMTs

Zanoni, Enrico, Meneghesso, Gaudenzio, Verzellesi, Giovanni, Danesin, Francesca, Meneghini, Matteo, Rampazzo, Fabiana, Tazzoli, Augusto, Zanon, Franco

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.47 MB

english, 2007

17

[IEEE 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Phoenix, AZ, USA (2008.04.27-2008.05.1)] 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium - Suspensions shape impact on the reliability of ohmic RF-MEMS redundancy switches

Tazzoli, Augusto, Peretti, Vanni, Autizi, Enrico, Meneghesso, Gaudenzio

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 640 KB

english, 2008

18

[IEEE 2012 IEEE International Frequency Control Symposium (FCS) - Baltimore, MD, USA (2012.05.21-2012.05.24)] 2012 IEEE International Frequency Control Symposium Proceedings - Ultra-high-frequency temperature-compensated oscillators based on ovenized AlN contour-mode MEMS resonators

Tazzoli, Augusto, Piazza, Gianluca, Rinaldi, Matteo

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.38 MB

english, 2012

19

[IEEE 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - Garden Grove (Anaheim), CA, USA (2010.05.2-2010.05.6)] 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium - A study of the failure of GaN-based LEDs submitted to reverse-bias stress and ESD events

Meneghini, Matteo, Tazzoli, Augusto, Ranzato, Enrico, Trivellin, Nicola, Meneghesso, Gaudenzio, Zanoni, Enrico, Pavesi, Maura, Manfredi, Manfredo, Butendeich, Rainer, Zehnder, Ulrich, Hahn, Berthold

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 369 KB

english, 2010

20

[IEEE 2012 IEEE International Frequency Control Symposium (FCS) - Baltimore, MD, USA (2012.05.21-2012.05.24)] 2012 IEEE International Frequency Control Symposium Proceedings - High frequency AlN MEMS resonators with integrated nano hot plate for temperature controlled operation

Rinaldi, Matteo, Hui, Yu, Zuniga, Chiara, Tazzoli, Augusto, Piazza, Gianluca

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.35 MB

english, 2012

21

[IEEE 2011 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - Washington, DC, USA (2011.12.5-2011.12.7)] 2011 International Electron Devices Meeting - Ovenized high frequency oscillators based on aluminum nitride contour-mode MEMS resonators

Tazzoli, Augusto, Rinaldi, Matteo, Piazza, Gianluca

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.53 MB

english, 2011

22

[IEEE 2011 IEEE 9th International Conference on ASIC (ASICON 2011) - Xiamen, China (2011.10.25-2011.10.28)] 2011 9th IEEE International Conference on ASIC - Aluminum Nitride reconfigurable RF-MEMS front-ends

Tazzoli, Augusto, Rinaldi, Matteo, Zuo, Chengjie, Sinha, Nipun, Van Der Spiegel, Jan, Piazza, Gianluca

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.17 MB

english, 2011

23

Design and characterization of an active recovering mechanism for high-performance RF MEMS redundancy switches

Solazzi, Francesco, Tazzoli, Augusto, Farinelli, Paola, Faes, Alessandro, Mulloni, Viviana, Margesin, Benno, Meneghesso, Gaudenzio

Журнал:

International Journal of Microwave and Wireless Technologies

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 394 KB

english, 2011

24

[IEEE 2015 37th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Reno, NV, USA (2015.9.27-2015.10.2)] 2015 37th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Engineering of dual-direction SCR cells for component and system level ESD, surge, and longer EOS events

Tazzoli, Augusto, Vashchenko, Vladislav

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.68 MB

english, 2015

25

[IEEE 2015 37th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Reno, NV, USA (2015.9.27-2015.10.2)] 2015 37th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Active clamps with hybrid BJT-CMOS operation mode

Vashchenko, Vladislav, Aliaj, Blerina, Tazzoli, Augusto, Shibkov, Andrei

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.63 MB

english, 2015

26

[IEEE 2016 38th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Garden Grove, CA, USA (2016.9.11-2016.9.16)] 2016 38th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - PMOS arrays self-protection capability limitation

Vashchenko, Vladislav, Tazzoli, Augusto, Shibkov, Andrei

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 781 KB

english, 2016